KLA Filmetrics F50薄膜厚度測量儀采用自動化R-Theta平臺，支持標準和定制化樣品夾盤，最大樣品直徑達450毫米，能高效測繪薄膜厚度。該設備適...

HMS-7000 霍爾效應測試儀用于測量半導體材料的關鍵電學參數，如載流子濃度和遷移率等。ECOPIA公司的HMS系列霍爾效應測量系統以其高精度、小型化設計和簡...

Gas Mixers氣體混配器用于 SEMI-KLEEN 和 EM-KLEEN 系列遠程等離子源

關于SEMI-KLEEN UHV等離子體清洗機SEMI-KLEEN 和 EM-KLEEN 系列遠程等離子體清洗機基于勞倫斯伯克利國家實驗室開發(fā)的高效電感耦合等離...

KLA Filmetrics F20臺式薄膜厚度測量系統;經濟實惠的膜厚儀系列在幾秒鐘內就能完成高精度的薄膜厚度測量。這些易于使用的儀器與智能軟件和一系列附件和...

KLA Filmetrics R50系列四探針電阻測試儀，方塊電阻測試儀可對金屬層厚度、薄膜電阻、薄膜電阻率、薄膜電導和薄膜電導率進行測繪。R54是方塊電阻測量...

KLA Nano Indenter? G200X納米壓痕儀是一種易于使用的納米級力學測試工具，可快速提供精確的定量分析結果。G200X系統可處理從硬質涂層到軟質...

KLA Candela? 8520表面缺陷檢測系統第二代集成式光致發(fā)光和表面檢測系統，設計用于對碳化硅和氮化鎵襯底上的外延缺陷進行高級表征。采用統計制程控制(S...

KLA Tencor? P-7探針式輪廓儀為生產和研發(fā)環(huán)節(jié)提供了從幾納米到一毫米的臺階高度測量功能。該系統支持對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力進行二維(2D)和...

霍爾效應測試儀主要用于測量半導體材料的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數、導電類型等重要參數，而這些參數是了解半導體材料電學特性必須預先掌控的，因此，此測試儀...

薄膜應力測量系統：在硅片等基板上附膜時，由于基板和薄膜的物理定數有異，產生應力，進而引起基板變形。由涂抹均勻的薄膜引起的變形的表現為基板的翹曲，而薄膜應力測量裝...

WB-200 半自動引線鍵合機非常適合實驗室研發(fā)，產品原型試產，產品評估，產品返修等在有限預算下，同時必須要保證高質量鍵合的用戶。