當前位置：蘇州福佰特儀器科技有限公司>>掃描電鏡>>SEM電鏡>> SEM掃描電鏡 ZEM20掃描電子顯微鏡 半導體陶瓷電容截面分析
| 背散射電子圖像分辨率 | 4nm | 產地類別 | 國產 |
|---|---|---|---|
| 二次電子圖象分辨率 | 4nm | 放大倍數 | 360000x |
| 加速電壓 | 3-20kV | 價格區間 | 30萬-50萬 |
| 儀器種類 | 冷場發射 | 應用領域 | 生物產業,電子/電池,汽車及零部件,電氣,綜合 |
掃描電子顯微鏡 半導體陶瓷電容截面分析-ZEM系列臺式掃描電鏡，融合了眾多創新技術，不僅成像效果，而且便于攜帶，能夠滿足多樣化的應用需求。在國內外，ZEM系列以其定位和多樣化型號，已在成像清晰度、用戶友好性以及系統整合性等方面達到了標準。
該系列產品以其高度的集成性和多樣化的配置選項而著稱，用戶界面簡潔，易于學習和操作，即使是非專業用戶也能迅速掌握。配備的軟件支持整個工作流程，從樣品準備、參數調整到圖像分析，提供了一體化的高效解決方案。ZEM系列在新材料、新能源、生物醫藥和半導體等多個領域均顯示出了其強大的分析能力，助力科研工作者深入探索微觀世界的神秘。因其性價比，ZEM系列已成為眾多高校、研究機構和企業重點選擇的臺式掃描電鏡。
| 主要指標 | ZEM20 |
| 加速電壓 | 20kV |
| 分辨率 | 優于4nm |
| 放大倍數 | 360000 |
| 燈絲類型 | 預對中鎢燈絲 |
| 換樣時間 | ＜1min（30s） |
| 真空模式 | 高真空 低真空（1-60Pa）(選配) |
| 樣品臺移動范圍 | 三軸樣品臺 五軸樣品臺（選配） |
| 導航相機 | 光學導航、艙內相機 |
| 探測器 | BSE, SE |
| 拓展能力 | 選配減速，可集成EDS、原位臺 |
▲ 真空分隔技術 ：采用獨特真空設計，電子槍和樣品倉真空分離，換樣時間小于1min。
▲ 超大樣品倉：提供了更大的樣品存儲空間，方便用戶操作。
▲ 超高分辨率：極限放大倍數達到36萬倍，分辨率4nm@20kV。
▲ 選配減速模式：允許弱導電樣品在不噴金的情況下進行觀察。
▲ 倉內攝像頭：樣品倉內置高清攝像頭，原位實驗時可實時監測樣品原位變化。
SEM芯片加熱臺，SEM加熱爐，SEM電池臺，SEM液體電化學臺，SEM氣體臺，SEM拉伸臺，SEM-TEC冷臺，SEM液氮冷臺，SEM電學探針臺，SEM通光等掃描電鏡原位測試系統 。
掃描電子顯微鏡 半導體陶瓷電容截面分析
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