開爾文探針系統(tǒng) Kelvin Probe，研究樣品的電表面狀態(tài)，專用于測(cè)量半導(dǎo)體樣品表面的電子功函數(shù)。單點(diǎn)開爾文探系統(tǒng)，用于研究功函數(shù)，能夠精準(zhǔn)測(cè)量樣品表面特定...

IMPSIMVS 強(qiáng)度調(diào)制光電流光電壓光譜系統(tǒng)，專為測(cè)量載流子傳輸時(shí)間、重組速率等時(shí)間尺度設(shè)計(jì)，提供高精度時(shí)間分辨測(cè)量，深入分析光電效應(yīng)中的關(guān)鍵過程，支持電化學(xué)...

微型光電化學(xué)（PEC） 測(cè)量系統(tǒng) ，集成恒電位儀、10波長(zhǎng)LED旋轉(zhuǎn)器（紫外/可見/近紅外）、聚四氟乙烯電化學(xué)電池及Ag/AgCl參比電極、鉑對(duì)電極，支持雙/三...

時(shí)間分辨熒光光譜儀 FPC-TDC 采用第一次光子計(jì)數(shù)法，特別適用于低熒光產(chǎn)率樣品的研究。系統(tǒng)通過激光脈沖激發(fā)樣品，測(cè)量熒光光子到達(dá)光電倍增管的飛行時(shí)間，從而重...

分光熒光儀專為電化學(xué)樣品熒光研究設(shè)計(jì)，適用于固態(tài)和液態(tài)樣品的激發(fā)和發(fā)射光譜測(cè)量。搭載氙燈光源與雙單色儀，精確控制入射光強(qiáng)度和熒光發(fā)射。系統(tǒng)支持總熒光強(qiáng)度測(cè)量，光...

完整型開爾文探針系統(tǒng)突破150年瓶頸，解決接觸電位差（CPD）來源模糊問題，精準(zhǔn)分離樣品與探針電位。金網(wǎng)探針、法拉第籠助力高精度表面分析，重塑材料研究標(biāo)準(zhǔn)。

開爾文探針系統(tǒng) Kelvin Probe，研究樣品的電表面狀態(tài)，專用于測(cè)量半導(dǎo)體樣品表面的電子功函數(shù)。 電化學(xué)開爾文探針系統(tǒng)專為直接測(cè)量與電解質(zhì)接觸的電化學(xué)樣品...

開爾文探針系統(tǒng) Kelvin Probe，研究樣品的電表面狀態(tài)，專用于測(cè)量半導(dǎo)體樣品表面的電子功函數(shù)。掃描開爾文探針系統(tǒng)可測(cè)量單點(diǎn)接觸電位差（CPD）并掃描整個(gè)...

阻抗分析儀是一款突破傳統(tǒng)的電化學(xué)阻抗測(cè)試儀器，具備全頻段同步采集與時(shí)間分辨功能，可實(shí)時(shí)觀測(cè)樣品阻抗隨時(shí)間演化，特別適用于鋰電池、電化學(xué)傳感器、光電材料等動(dòng)態(tài)系統(tǒng)...

瞬態(tài)吸收光譜儀，專用于研究材料在激光激發(fā)下的量子態(tài)躍遷與退激過程。通過測(cè)量液體樣品對(duì)白光的吸收變化或固態(tài)樣品的反射信號(hào)，揭示其從激發(fā)態(tài)回到基態(tài)的動(dòng)態(tài)行為。系統(tǒng)可...

量子效率測(cè)量系統(tǒng)專為太陽(yáng)能電池及光電材料表征設(shè)計(jì)。配備單色儀、氙燈、鹵素?zé)襞cAM1.5G模擬光源，可覆蓋從紫外（UV）、可見光（VIS）到紅外（IR）的波長(zhǎng)范圍...

增強(qiáng)型光電化學(xué)（PEC） 測(cè)量系統(tǒng)，具備自動(dòng)分析樣品光電特性。核心為雙入口單色儀：氙燈提供連續(xù)光譜（太陽(yáng)模擬器），LED轉(zhuǎn)輪支持IMPS/IMVS與時(shí)間分辨研究...