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| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 地礦,電子/電池,道路/軌道/船舶,電氣,綜合 |
|---|---|---|---|
| 頻率范圍 | 30 - 300,000 英尺/分鐘（0.5 - 5000 赫茲） | 閃光持續時間 | 可調（1 微秒至 8522 微秒） |
| 準確性 | ±0.02%±500納秒 | 解決 | ± 0.1 英尺/分鐘 (30 - 999) ± 1 英尺/分鐘 1000+ |
| 亮度 | 9000 勒克斯 @ 200 毫米（8 英寸） | 防護等級 | IP65（防塵防水） |
| 展示 | LCD，多行 | 認證 | CE（根據歐盟標準） |
| 閃光顏色 | 約 6,500 K | 電源 | 3節 AA 型電池或 3節 NiMH 充電電池 |
| 外殼材料 | 鋁/ABS 重型設計 | 方面 | 191 x 82 x 60 毫米 / 7.5 x 3.2 x 2.4 英寸 |
| 大約重量 | 400克（含電池） | 溫度范圍 | 0° - 45° 攝氏度 / 32° - 113° 華氏度 |
| 電池壽命 | 鎳氫電池：6.000 FPM 時約 11 小時 一次性電池：6.000 FPM 時約 6 小時 | 保修單 | 2年 |
| 默認設置 | FPM 1000，Hz 16.6，脈沖μs 333，脈沖度2°，延遲ms 0.0，相位度0°，分頻器 |
otsuka大塚電子 QE-2100 量子效率測量器
otsuka大塚電子 QE-2100 量子效率測量器
可即時測量絕對量子效率（絕對量子產率）。兼容粉末、溶液、固體（薄膜）和薄膜樣品。低雜散光多通道光譜檢測器顯著降低了紫外區域的雜散光。采用積分半球單元實現了高亮度光學系統，并利用這一優勢進行再激發熒光校正，從而實現高精度測量。此外，還可以測量量子效率的溫度依賴性，并覆蓋從紫外到近紅外的寬波長范圍。
產品信息
特征
致力于高精度測量
瞬時測量 量子效率（ 量子產率）
可以去除再激發熒光。
采用積分半球單元可實現高亮度光學系統。
采用低雜散光多通道光譜探測器可顯著降低紫外區域的雜散光。
溫度控制功能（50 至 300°C）可測量量子效率（量子產率）的溫度依賴性
支持從紫外到近紅外（300至1600納米）的寬帶規格
注重操作簡便性
使用專用軟件操作簡便
樣品測量池易于安裝和拆卸。
節省空間且設計緊湊
通過使用光譜儀型激發光源，可以選擇任意波長的光。
通過在軟件中指定激發波長和步長值，可以實現自動測量。
注重多功能性
適用于粉末、溶液、固體（薄膜）和薄膜樣品
廣泛的分析功能
測量項目
量子效率（量子產率）測量
激發波長依賴性測量
發射光譜測量
PL激發光譜測量
激發發射矩陣 (EEM) 測量
目的
LED和有機電致發光熒光粉的量子效率（量子產率）測量
測量薄膜樣品（例如用于遠程熒光粉的熒光粉樣品）透射和反射熒光的量子效率（量子產率）。
量子點、熒光探針、生物場、包合物等的熒光測量。
染料敏化太陽能電池量子效率（量子產率）的測量
復雜化合物的測量
高精度的原因
1. 具有積分半球的理想光學系統
QE-2100 配備有積分半球。與積分球（全球）相比，積分半球具有以下優點：
由于非發光部分（支架等）可以暴露在外，因此可以最大限度地減少自吸收，從而實現理想的光學系統。
該鏡子使同一點的照度加倍，從而可以進行高度靈敏的測量。
樣品測量池可以很容易地安裝和拆卸，從而降低損壞積分球內部的風險。
2. 利用再激發熒光校正函數觀察“真實物理性質"
當考慮再激發熒光時，觀測到的并非材料的物理性質，而是器件的特性，因此無法確定材料的真實物理性質。QE-2100 利用積分半球的優勢來補償再激發熒光，從而實現簡單而高精度的測量。
3. 低雜散光多通道光譜探測器可減少紫外范圍內的雜散光
傳統探測器（多色儀）在紫外區域會檢測到大量雜散光，因此不適用于測量量子效率（量子產率）。大塚電子通過開發雜散光消除技術解決了這一問題。QE-2100 中安裝的多通道光譜探測器與我們之前的產品相比，雜散光量減少了約五分之一，即使在紫外區域也能進行高精度測量。
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