光偏振態、雙折射（RO、Rth）和穆勒矩陣的光譜測量?測量波長：400 至800 nm，分辨率：2 nm ?偏振態（斯托克斯譜）測量 ?雙折射（高達100,00...

Photron在線雙折射分布檢測系統可用于防止不良品流出并迅速探知缺陷的雙折射相位差分布檢測系統KAMAKIRI

Photron離線雙折射分布檢測系統可用于防止不良品流出并迅速探知缺陷的雙折射相位差分布檢測系統KAMAKIRI

R-Testing-72是一款高性能AR虛像成像測試-Conoscope系統，鏡頭設計靶面支持至大全畫幅43.2mm，支持相機分辨率61M（9568*6380）...

VR-Pancake 鏡片光軸相對角度測量儀主要規格視野范圍：至大φ80mm像素：至大616 x 514 畫素(約30萬畫素)測量波長：466nm,543nm,...

VR-Pancake 鏡片內應力相位差測量儀主要規格視野范圍：至大φ80mm像素：至大616 x 514 畫素(約30萬畫素)測量波長：466nm,543nm,...

目前與奧林巴斯、日本photo Lattice、日本Micro Support等企業達成長期代理與合作；主要代理產品包括：奧林巴斯工業顯微鏡系列，奧林巴斯工業探...

三鷹光器自動對焦非接觸3D測量設備無論什麼工件都以非接觸方式進行高精度的測量不依賴表面的色澤/反射率來做高精度測量從表面反射率僅有0.5的%鍍膜玻璃，至反射率擁...

Photron在線/離線雙折射分布檢測系統可用于防止不良品流出并迅速探知缺陷的雙折射相位差分布檢測系統KAMAKIRI

鏡片內應力相位差/光軸相對角度測量儀主要規格視野范圍：至大φ80mm像素：至大616 x 514 畫素(約30萬畫素)測量波長：466nm,543nm,650n...