目錄:憶璽智能科技（杭州）有限公司>>光電實(shí)驗(yàn)實(shí)訓(xùn)>>光電檢測實(shí)驗(yàn)>> ROE-RI04 # 光學(xué)薄膜測量綜合實(shí)驗(yàn)
| 參考價(jià) | 面議 |
| 參考價(jià) | 面議 |
更新時(shí)間：2025-12-23 11:15:09瀏覽次數(shù)：631評(píng)價(jià)
聯(lián)系我們時(shí)請(qǐng)說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息，謝謝!
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
|---|
ROE-RI04 # 光學(xué)薄膜測量綜合實(shí)驗(yàn)簡介
伴隨著21世紀(jì)初光電子技術(shù)的迅猛發(fā)展，光學(xué)薄膜器件的應(yīng)用向著性能要求和技術(shù)難度更高、應(yīng)用范圍和知識(shí)領(lǐng)域更廣、器件種類和需求數(shù)量更多的方向迅速發(fā)展。為了使學(xué)生適應(yīng)發(fā)展需求、拓展知識(shí)范圍、增加知識(shí)深度、開闊視野和提升能力，開發(fā)了光學(xué)薄膜測量綜合實(shí)驗(yàn)，針對(duì)市場上常用的鍍膜片進(jìn)行研究，從鍍膜的原理到實(shí)際樣品的測試，逐步深入，是學(xué)生了解光學(xué)鍍膜原理和應(yīng)用的良好實(shí)驗(yàn)平臺(tái)。
ROE-RI04 # 光學(xué)薄膜測量綜合實(shí)驗(yàn)內(nèi)容
光譜儀的原理與使用實(shí)驗(yàn)；
白光干涉測薄膜厚度實(shí)驗(yàn)；
鍍膜介質(zhì)折射率測量實(shí)驗(yàn)；
單層膜特性模擬實(shí)驗(yàn)；
減反射膜模擬與測試實(shí)驗(yàn)；
增反射膜模擬與測試實(shí)驗(yàn)；
截止濾光片模擬與測試實(shí)驗(yàn)；
帶通濾光片模擬與測試實(shí)驗(yàn)；
分光鏡模擬與測試實(shí)驗(yàn)；
帶通濾光片的角特性實(shí)驗(yàn)。
實(shí)驗(yàn)知識(shí)點(diǎn)
減反射膜、增反射膜、金屬膜、分光鏡、二向色鏡、帶通濾光片、白光干涉、薄膜測厚、能量比、反射率、透過率.
實(shí)驗(yàn)效果圖
實(shí)驗(yàn)原理圖
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
會(huì)員.png)
4
化工儀器網(wǎng)