Fischerscope XULM240 返回列表頁

Fischerscope XULM240

FISCHERSCOPE X-RAY XULM 240菲希爾X射線測厚儀是一款性能、設計緊湊、應用廣泛的X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。由先前的XULM-xym換代而來。常用于無損測量細小工件上的鍍層厚度和材料分析。特別適合在質量管控，來料檢驗及生產過程控制中測量使用。

典型應用領域比如：

1、對十分微小零部件、接插件和線材的鍍層測量

2、印刷電路板上進行手動測量

3、對珠寶和手表業(yè)中需求的測量

Fischer xulm 240 菲希爾X射線熒光鍍層測厚儀的比例接收器能實現(xiàn)高計數率，這樣就可以進行高精度測量。如同所有的Fischerscope x-ray儀器一樣，本款儀器有著出色的精-確性以及長期的穩(wěn)定性，這樣顯著減少了校準儀器所需要的時間和精力。依靠菲希爾Fischer公司的基本參數法，可以在沒有校驗標準片校正的情況下分析固態(tài)和液態(tài)的成分以及測量樣品的鍍層厚度。Fischer xulm 240x射線鍍層測厚儀配備了微聚焦x射線管以及可電動切換的視準器和基本濾片，因此更適合對微小型工件進行測量。

菲希爾X射線鍍層測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XULM 240基本技術規(guī)格：

1、單性金屬鍍層厚度測量。

2、合金鍍層厚度測量。

3、雙鍍層厚度測量。

4、雙鍍層（其中一層是合金）厚度測量。

5、三鍍層厚度測量。

6、測量小區(qū)域：測量點大小約0.09x0.09 mm。

6、測量厚度精度：當Au厚度大于0.1μm時，有標準片校準情況下<±5%,無標準片校準情況下<±10%。