當前位置：上海梓夢科技有限公司>>材料分析設備>>晶體出現率分析儀>> ZMP-960晶體出現率分析儀
| 應用領域 | 制藥/生物制藥 |
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一、結構原理
ZMP-960晶體出現率分析儀工作原理是通過專用高分辨率CCD線性傳感器和顯微光學掃描平臺，將顆粒圖像信息采集下來并傳輸到計算機中，用專門的顆粒圖像分析軟件對顆粒圖像進行分析。結合智能的背景分離的顆粒邊界搜索算法，將目標顆粒與背景分離，分析出各種測量參數，并通過顯示器和打印機輸出。
該儀器具有超大測量范圍及高分辨率，同時具有直觀、可視、準確、操作簡單、測量參數全面等特點。能夠同時測量顆粒粒度、形狀及表面顏色的新型顆粒分析儀器。
二、產品介紹
ZMP-960晶體出現率分析儀可以直接對透明貼劑中析出的晶體進行掃描，按照規定掃描范圍進行掃描一定的面積，將其中的晶體識別出來并做數量統計。軟件可以內置公式得出晶體出現率。
三、性能指標
1.測量范圍：1μm ～ 100mm
2.圖像分辨率：900萬像素
3.光學平臺：100mm * 120mm
4 背景光源：反射光
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