您好, 歡迎來到化工儀器網
7太陽能組件PL成像系統集成了多種創新功能
新聞排行榜
更多產品展示
更多-
-
太陽能電池 iVoc 成像系統LUMiK
-
太陽能電池PL成像系統LUMiKON M
-
EL/PL絕對量子產率測試系統LuQY
-
Absolute PL量子產率測試系統用
-
QFLS準費米能級分裂測試儀由德國柏林亥
更新提醒！kSA BandiT軟件最新版本已發布
尊敬的kSA BandiT用戶，如果您正在使用Riber的Crystal XE，我們建議您將BandiT軟件升級到最新版本。BandiT的最新版本可以在Crystal XE（Riber的MBE控制軟件）中實時查看和記錄BandiT結果，以及其他相關信息。這種集成與通訊允許Crystal XE快速訪問kSA BandiT提供的各種晶片溫度測量參數，如需升級請聯系我們。
kSA BandiT實時襯底溫度測試儀 是一種非接觸、實時測量半導體襯底表面溫度的測試系統，采用半導體材料吸收邊隨溫度的變化的原理，實時測量晶片/襯底的溫度。