蔡康地質偏光顯微鏡

一、XPF-770C系列偏光顯微鏡的用途和特點:
      XPF-770透反射偏光顯微鏡采用*UCIS無窮遠色差獨立校正光學系統，是地質、礦產、冶金等部門和相關高等院校的專業實驗儀器。 隨著光學技術的不斷進步，偏光顯微鏡的應用范圍也越來越廣闊，可廣泛應用于地質、化工、醫療、藥品等領域的研究與檢驗，也可進行液態高分子材料，生物聚合物及液晶材料的晶相觀察，是科研機構與高等院校進行研究與教學的理想儀器。可供廣大用戶作單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察以及顯微攝影，配置有石膏λ、云母λ/4試片、石英楔子和移動尺等附件，是一組具有較完備功能和良好品質的新型產品。本儀器的具有可擴展性，可以接計算機,對圖片進行保存、編輯和打印。

二、性能特點
1、UCIS無窮遠色差獨立校正光學系統，配置無窮遠平場物鏡(中心可調)與φ20mm大視野目鏡
2、粗微動同軸調焦機構，粗動松緊可調，帶限位鎖緊裝置，微動格值: 1μm
3、可拆卸式起偏器， 可360°偏振方向旋轉，有0、45、90、135、180、225、270、315四個檔位
4、寬電壓電源：透射照明，科勒照明，110-240V自適應式寬電壓，6V20W鹵素燈，亮度連續可調；反射照明：12V50W鹵素燈照明，電源箱寬電壓輸入，可變光欄，偏光、濾色片切換器