目錄:上海硅儀生化科技有限公司>>賽默飛>>賽默飛波譜儀>> 賽默飛Nexsa G2 X 射線光電子能譜儀
| 窗口類型 | - | 分辨率 | -eV |
|---|---|---|---|
| 峰背比 | - | 價格區(qū)間 | 40萬-50萬 |
| 探測器類 | 鋰漂移硅探測器Si(Li) | 探測器面積 | -mm |
| 儀器種類 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,生物產(chǎn)業(yè),石油,制藥/生物制藥 |
| 最大計數(shù)率 | -cps |
賽默飛Nexsa G2 X 射線光電子能譜儀標(biāo)準(zhǔn)化性能：
· 絕緣體分析
· 高性能XPS性能
· 深度剖析
· 多技術(shù)聯(lián)合
· 雙模式離子源，使深度剖析功能得到擴(kuò)展
· 用于 ARXPS 測量的傾斜模塊
· 用于儀器控制、數(shù)據(jù)處理和報告生產(chǎn)的 Avantage 軟件
· 小束斑分析
可選的升級：可將多種分析技術(shù)集成到您的檢測分析中。式自動運(yùn)行
· ISS：離子散射譜，分析材料表面1-2原子層元素信息，通過質(zhì)量分辨可分析一些同位素豐度信息。
· UPS：紫外光電子能譜用于分析金屬/半導(dǎo)體材料的價帶能級結(jié)構(gòu)信息以及材料表面功函數(shù)信息
· 拉曼：拉曼光譜技術(shù)用于提供分子結(jié)構(gòu)層面的指紋信息
· REELS：反射電子能量損失譜可用于H元素含量的檢測以及材料能級結(jié)構(gòu)和帶隙信息
賽默飛Nexsa G2 X 射線光電子能譜儀應(yīng)用領(lǐng)域
· 電池
· 生物醫(yī)藥
· 催化劑
· 陶瓷
· 玻璃涂層
· 石墨烯
· 金屬和氧化物
· 納米材料
· OLED
· 聚合物
· 半導(dǎo)體
· 太陽能電池
· 薄膜
(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)
8
化工儀器網(wǎng)