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| 供貨周期 | 現(xiàn)貨 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
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聯(lián)合光科激光調(diào)制與探測解決方案。
光測試設(shè)備可提供臺式激光二極管驅(qū)動器、臺式光功率計、消光比測試儀、寬帶頻率源模塊等光測試設(shè)備。
光學器件的測試是生產(chǎn)過程中的重要環(huán)節(jié)，我們經(jīng)過多年的研發(fā)，積累了較全的測試解決方案，包括測試光源、激光器驅(qū)動、光功率計、消光比測試儀、光譜測量模塊等設(shè)備，可以提供偏振消光比（PER）、插入損耗（IL）、光功率及穩(wěn)定性（P）、光譜及穩(wěn)定性等多種參量的測試，并根據(jù)客戶需求提供工位用單/雙通道，及長時間穩(wěn)定性測試用多通道集成測試系統(tǒng)，極大地提高了生產(chǎn)效率。
單/雙通道消光比測試儀可獨立進行偏振消光比測試、光功率測試、數(shù)字調(diào)零、數(shù)字校準、手動或自動選擇量程，配備 USB(RS232) 接口，上位機軟件可自動進行數(shù)據(jù)測試、 記錄、分析，可方便地組成自動測試系統(tǒng)。 廣泛應(yīng)用于光通信設(shè)備、光纖、光無源器件與光有源器件的測試，功率范圍寬、測試精度高、性價比高、可靠性好。
產(chǎn)品特點長壽命，低噪聲，低電磁干擾
測量誤差小
應(yīng)用領(lǐng)域單端光器件PER參數(shù)測試
雙路輸出器件得PER參數(shù)測試（Y波導(dǎo)、耦合器、分束器等）
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