平均粒度儀 返回列表頁

丹東粒度儀廠廠家研發的粒度儀，在實驗室時當光線照射到顆粒上時會發生散射、衍射，其衍射、散射光強度均與粒子的大小有關。觀測其光強度，可應用Fraunhofer 衍射理論和Mie 散射理論求得粒子徑分布(激光衍射/ 散射法)，使用Mie 散射理論進行計算。光入射到球形粒子時可產生三類光：第一類，在粒子表面、通過粒子內部、經粒子內表面的反射光；第二類，通過粒子內部而折射出的光；第三類，在表面的衍射光。這些現象與粒子的大小無關，全都可以作為光散射處理。

     粒徑大于波長的時候，由Fraunhofer 衍射理論求得的衍射光強度和理論求得的散射光強度大體是一致的。因此，可以把Fraunhofer 衍射理論作為Mie 散射理論的近似處理。這時，光散射(衍射)的方向幾乎都集中在前方，其強度與粒子徑的大小有關，有很大的變化。即表示粒子徑固有的光強度譜，解出粒子的光強度分布(散射譜)就可以定出粒子徑。當波長和粒子徑很接近的時候，不能用Fraunhofer 的近似式來表示散射強度。這時有必要根據Mie 散射理論作進一步討論。在Mie散射中的散射光強度由入射光波長、粒子徑、粒子和介質的來確定。