目錄:上海昊量光電設備有限公司>>專用實驗設備>>X射線產品>> X射線單色器（X射線布拉格光柵）
| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 綜合 |
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X射線單色儀是一種彎曲的單晶組分，能夠高效聚焦X射線發射。單色儀被廣泛應用于多種領域——包括用于元素表面分析的X射線光電子能譜（XPS）、同步輻射束線聚焦以及受控核聚變研究設施中的等離子體診斷。
昊量光電推出的這款X射線單色儀在制造和測試單晶X射線光學方面發揮了廣泛的能力;采用嚴格的計量和質量控制技術，結合專有的光學接觸方法，從而能夠向X射線光譜市場提供高質量的彎曲晶體X射線光學，提升測量分辨率。
昊量光電推出的這款X射線單色儀基于對晶體材料的深入科學理解。根據定制規格生產平整和彎曲的X射線晶體，常見的是石英、硅或鍺單晶。不斷努力滿足彎曲晶體X射線光學客戶不斷變化的需求，致力于在不同晶體平面對復雜材料進行稀釋和拋光，幫助客戶實現更高的反射率和能量分辨率。近期項目包括鈮酸鋰、砷化銦和銻化銦的定向、拋光和彎曲。
X射線單色器 （X射線布拉格光柵）產品特點：
包括環形、橢圓形、非球面和球面形狀在內的雙彎晶體的曲率
通過干涉測量法驗證的表面輪廓，其斜率誤差和半徑精度均得到嚴格控制
專有的拋光技術，旨在大程度減少內部損傷和晶體平面變形
利用測量精度達 1 弧秒的 X 射線衍射儀實現精確的晶體定向
通過 X 射線成像技術對晶體質量進行驗證，并確保批次之間的一致性
與真空兼容的由無氣逸出材料構成的組件
幾何形狀和精度適合作用于實現微小的光斑尺寸
X射線單色器（X射線布拉格光柵）產品應用場景：
同步輻射：彎晶聚焦單色儀用于光束線聚焦與單色化，提升 XAFS/XPS 實驗的能量分辨率與光子通量
半導體：四晶單色器搭配 SiPM 探測器，用于晶圓缺陷檢測、薄膜成分分析與制程工藝控制
醫療成像：平晶單色器適配 CT 與放射治療設備，降低散射線，提升成像對比度與劑量精準度
航空航天：定制化真空兼容單色儀用于材料無損檢測，保障結構件缺陷識別精度
X射線單色器 （X射線布拉格光柵）產品規格：
| Diffraction Crystals | Quartz, Silicon, Germanium, Lithium Niobate, InSb, KAP, and RbAP |
| substrate Materials | Glass or Metal |
| Assembly Dimensions | Diameters up to 250 mm |
| Assembly Features | Notches, grooves, and inserts for easy integration and alignment TiLED crystals for large area coverage |
| Orientation Accuracy | Absolute to ± 10 arcsec ; Relative to ± 2 arcsec |
| slope Error | To λ/4 per inch @ 633 nm |
| Radius Tolerance | Accurate to within 1%, Rv/Rh ratio controlled for toroids |
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