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    馬爾文帕納科

    • 馬爾文帕納科晶圓分析儀 參考價: 面議

      參考價: 面議 型號:2830 ZT
      馬爾文帕納科晶圓分析儀2830 ZT提供了用于測量薄膜厚度和成分的功能。 2830 ZT 專門針對半導體和數據存儲行業而設計,該儀器可為多種晶片(厚達 300 ...
      型號: 2830 ZT 品牌:馬爾文帕納科所在地:國外 對比
      X射線熒光光譜儀臺式熒光光譜儀晶圓檢測儀晶圓測厚儀馬爾文帕納科
      2025/12/12 16:54:31124292

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