布魯克三維光學輪廓儀ContourX-1000

布魯克三維光學輪廓儀ContourX-1000

落 地 式 ContourX-1000 白 光 干 涉（WLI） 系 統 集 成 了Bruker 在 硬 件 和 軟 件 上 的  新 技 術， 可 用 于 全 自 動 三維表面紋理和粗糙度測量。
全新的一鍵式高級尋找表面（Advanced Find Surface ）功能結合自動聚焦和自動照明功能，無需每次測量前手動查找樣品表面，極大提升了用戶體驗且縮短測量時間。結合自適應測量模式 USI 和簡潔的引導式VisionXpress操作界面，ContourX-1000 在任何表面，任何操作人員，甚至多用戶高負荷的生產設備下都可提供不打折扣的精確測量。

特點：

·可傾斜 / 俯仰光學頭、雙光源和先進的自動化功能可提供快速、靈活的生產車間內測量。
·自校準激光和集成的防震臺可確保測量準確性和可靠性。
·提供的測量和分析軟件帶有簡潔且有引導性的程序和模式，更大程度的方便用戶使用。

光學輪廓分析設備硬件設計

ContourX-1000 集成有 Bruker 的傾斜 / 俯仰光學頭，*的雙光源、自動化的物鏡轉盤和樣品臺，以及可選配的晶圓卡盤。這些創新可為幾乎所有的在研發和生產中的應用提供快速且解決方案，包括有難度的表面和深溝槽結構。

強大的自動化測量和分析

全局掃描干涉 (USI) 自適應測量模式可自動確定測量參數，即使在幾十微米尺度內也可確保納米級分辨率。
簡潔的且帶有引導性的 VisionXpress交互界面可去除操作人員經驗水平的影響，快速得到佳測試結果。
即使在多用戶環境中，每個使用者都可通過高級查找表面功能，自動聚焦功能和自動照明調整功能獲取高 質 量 的 結 果。 使 用 全 套 兼 容 的軟件包，從SureVison和多區域分析 到 Vision64 Map  和 膜 測 量，ContourX-1000 都 可 提 供  的測量來滿足您特定的應用需求。

測量準確性與魯棒性的基準

除 擁 有 Bruker  干 涉 技 術 測 量 和 成 像 能 力 之 外，ContourX-1000 還 配 備 了 專 屬 的 內部參考激光和防震臺以獲取大的穩定性和與其他工具的匹配能力。
即使在嘈雜的環境中，該系統也能確保測量性能。

布魯克三維光學輪廓儀ContourX-1000