100KHz以內LCR測試元件的方法

對于使用100KHz以下的電橋對元件的測試辦法：

在主顯示屏幕中所測量到之讀值通常還要考慮到并/串聯(lián)等效電路之問題。在目前大部分之組件制造廠商都會注明該待測組件是使用何種方式（通常為串聯(lián)方式）以及測試頻率來加以量測。如果沒有標明測試方式及頻率可以建議如下測試方式

建議之測量方式：

電感小于10mH： 串聯(lián)， 100kHz.

電感從10 mH到1mH： 串聯(lián)， 10kHz.

電感從1mH到1H： 串聯(lián)， 1kHz.

電感大于1H： 串聯(lián)， 0.1kHz.

電容小于 10pF： 串聯(lián)， 100kHz.

電容從10到400pF： 串聯(lián)或并聯(lián)， 10kHz.

電容從400到1mF： 串聯(lián)， 1kHz.

電容大于1mF： 串聯(lián)， 0.1 or 0.12kHz.

電阻小于1kW： 串聯(lián)， 1kHz.

電阻從1kW到10MW： 并聯(lián)， 0.25kHz.

電阻大于10 MW：并聯(lián)， 0.03kHz

除非有特殊理由，測量電容與電感時建議使用串聯(lián)方式。而對于測量非常小之電容與電感，則提高測試頻率以得到較好的精度。如果測量非常大之電容與電感，則降低測試頻率以得到較好的精度。要測量直流阻抗時，則選擇較低之測試頻率以減少交流效應。

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