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    鈴田(上海)科技有限公司
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    當前位置:鈴田(上海)科技有限公司>>實驗室精密儀器設備>>DENSOKU電測>> Densoku電測EX-731自動測量DENSOKU電測X射線熒光涂層厚度計

    自動測量DENSOKU電測X射線熒光涂層厚度計

    參  考  價面議
    具體成交價以合同協議為準

    產品型號Densoku電測EX-731

    品       牌Densoku/電測

    廠商性質代理商

    所  在  地上海市

    更新時間:2026-01-28 10:35:22瀏覽次數:70次

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    產地類別 進口 價格區間 面議
    應用領域 綜合
    自動測量DENSOKU電測X射線熒光涂層厚度計日本DENSOKU(電測)株式會社,一家專注于精密電測儀器的公司,核心產品包括渦電流式和電解式膜厚計,用于測量金屬涂層厚度。這些儀器廣泛應用于汽車零部件、電池、軌道車輛、鋼鐵等行業,對測量精度要求高。DENSOKU電測儀器的精度確實非常出色,核心型號的精度普遍能達到±1%或±0.1μm,具體取決于型號和應用場景。

    自動測量DENSOKU電測X射線熒光涂層厚度計

    日本DENSOKU(電測)株式會社,一家專注于精密電測儀器的公司,核心產品包括渦電流式和電解式膜厚計,用于測量金屬涂層厚度。渦電流式膜厚計?:如 ?DS-110?,適合測量非磁性金屬上的非導電涂層或鋼材上的電鍍層。

    電解式膜厚計?:如 ?CT-6?,精度高,可測量多層金屬鍍層。

    其他型號?:如 ?GCT-311?,適用于線材測量;?DPF-1600?,用于數字相位計/繼電保護測試。

    這些儀器廣泛應用于汽車零部件、電池、軌道車輛、鋼鐵等行業,對測量精度要求高。

    DENSOKU電測儀器的精度確實非常出色,核心型號的精度普遍能達到±1%或±0.1μm,具體取決于型號和應用場景。

    型號精度:

    GCT-311 (電解式膜厚計)?:

    精度?:±1% 或 ±0.1μm(以較大者為準)。

    特點?:采用高精度恒流源,分辨率高達0.001μm,適合超薄鍍層和多層鍍層的精確測量。

    CT-6 (電解式膜厚計)?:

    精度?:±0.1微米(在標準條件下)。

    特點?:測量范圍0.1微米到50微米,適用于多種涂層材料和基材組合。

    DS-110 (渦電流式膜厚計)?:

    精度?:高安定(±1%)高精度。

    特點?:采用水晶振蕩方式,測量時間不超過1秒,適合非磁性金屬上的非導電涂層或鋼材上的電鍍層。

    CT-3 (電解式膜厚計)?:

    精度?:±1%。

    特點?:增加了高靈敏度范圍,提高了測量穩定性,最小分解能可達0.001μm。

    選擇建議

    追求高精度?:GCT-311或CT-6,尤其適合實驗室和質量控制部門的仲裁分析。

    需要快速測量?:DS-110的測量速度更快,適合生產線上的快速檢測。

    預算有限?:CT-3在保證高精度的同時,成本相對更低。

    注意事項

    破壞性測量?:電解式儀器(如GCT-311、CT-6)會在樣品表面留下微小腐蝕點,樣品無法作為良品使用。

    適用鍍層?:僅于陽極性鍍層(比基材更"惰性"的鍍層),無法測量陰極性鍍層(如銅上鍍鎳)。

    樣品要求?:樣品表面需清潔,油污、氧化層等會影響測量結果。

    自動測量DENSOKU電測X射線熒光涂層厚度計

    X射線熒光厚度計

    測量原子序數為22(Ti)或更高的金屬的薄膜厚度。

    還可以同時測量每層雙層和三層鍍層的薄膜厚度,以及合金涂層的薄膜厚度和成分。

    除了氣動濾光器外,標配兩種機械濾光器,因此可以高精度測量鋇上的

    鎳膜和鋅上的銅膜。


    熒光X射線涂層厚度計EX-851
    自動測量DENSOKU電測X射線熒光涂層厚度計

    X射線熒光涂層厚度計EX-851的特點

    可選擇兩種測量模式

    提供兩種模式可供選擇,使測量作能夠平穩地滿足具體應用需求。

    規模295(W)×545(D)×365(H)[毫米]
    重量15公斤或更少


    |多測量與多校準曲線

    坐標被注冊以自動

    測量激光點輻照位置的多個點。多個點可以用不同的校準曲線進行測量。

    膠片厚度測量中的光譜顯示

    膠片厚度測量中的光譜顯示多通道光譜分析快速處理,用于簡單被測物體的光譜顯

    示(處理速度2~3秒)

    顯示測量單位監控屏幕

    將X射線照射部分導入Windows屏幕,并顯示X射線照射部分。

    準直器實現放大變化函數,改變尺寸。

    自動測量DENSOKU電測X射線熒光涂層厚度計


    類型手動舞臺自動舞臺
    測量頭部尺寸(毫米)170×110300×280
    移動音量X(mm)7080
    Y(mm)7060
    Z(mm)80(測量物體高度,最高可達150)50
    物體高度(最大)80(選項150)50
    尺寸(毫米)600(W)×465(D)×730(H)
    體重(公斤)7985
    樣品載荷(公斤)32
    計算機尺寸(毫米)主機182(西)×383(D)×372(H)
    /監視機412(西)×415(D)x 432(H)
    Body 6.8 / Monitor 2.8
    體重(公斤)3.4
    電源AC100V+10V




    X射線源油浸微型微聚焦X射線管
    靶:鎢
    管電壓50kV
    管電流可變
    照射方法上述垂直輻照方法
    探測器比例計數管
    準直器5種類型(自動切換)10.1
    、0.2、0.5、1.0、2.0 Φmm
    (可選):
    0.05、0.1、0.2、0.3、0.5,Φ
    :0.05×0.5、0.5×0.05、0.1、0.2、0.5Φ
    樣本觀察CCD彩色相機
    計算機PC/AT兼容
    的17英寸彩色顯示器
    印刷廠噴墨打印機
    測量對象原子序數為22(Ti)~82(Pb),原子
    序數21及以下可以通過吸收法測量。
    濾波器兩種類型(CO,Ni)自動切換
    可測量范圍原子序數 22~24: 0.02~約 20μm 原子
    序數 25~40: 0.01~約 30μm 原子
    序數 41~51: 0.02~約 70μm 原子
    序數 52~82: 0.05~約 10μm
    校準曲線自動校準曲線創建函數 多點校準曲線
    校正函數基礎校正
    應用單層鍍層測量
    、雙層鍍層測量
    、三層電鍍測量
    、合金薄膜厚度組分比同時測量
    、無電鎳測量。
    測量功能自動測量
    ,輸出模式設置
    ,光譜測量
    ,兩點間距離,測量
    自動表函數測量位置指示(X-Y-Z)
    相同模式重復功能
    原點校正函數
    測量位置確認函數
    自動校準
    數據處理能力統計顯示:平均值、標準差、最大值、最小值、范圍、CP、CPK

    直方圖、直方圖、測量數據顯示
    、3D顯示
    、X-R控制圖
    安全特征X射線電源鍵開關
    故障保護功能
    其他特色舞臺坐標顯示
    密碼功能
    設備維護與維護



    類型手動舞臺
    測量頭部尺寸(毫米)170×110
    移動音量X(mm)70
    Y(mm)70
    Z(mm)80
    物體高度(最大)80
    尺寸(毫米)402(西)×430(民主)×580(民選)
    體重(公斤)48
    樣品載荷(公斤)3
    計算機尺寸(毫米)主機182(西)×383(D)×372(H)
    /監視機412(西)×415(D)x 432(H)
    Body 6.8 / Monitor 2.8
    體重(公斤)3.4
    電源AC100V+10V




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