光纖纖芯變形回縮測量

光纖被剪短時，光纖纖芯可能會發(fā)生變形回縮。受環(huán)境溫度變化等因素影響，光纖芯與外層護套由于各自的材料溫度膨脹收縮系數不同，或由于PBT管與護套在加工過程中材料內部存有不同的殘余應力，造成纖芯收縮相對過大所致。 纜芯發(fā)生回縮的另一個原因是光纜纜芯與護套之間必定發(fā)生了相對滑移，纜芯與護套間的結構不緊密，兩者之間的摩擦系數不夠大。

光纖芯部變形回縮可能會造成增加接續(xù)損耗，降低熔接點機械強度，導致連接器端面幾何形狀不達標等不利影響。

圖1 光纖結構

Sensofar S neox 090 是一款高精度的三維光學輪廓儀，它結合了共聚焦、干涉和多焦面疊加技術，能夠在無需移動部件的情況下快速、非接觸地測量微米和納米級別的表面形貌。可以在不接觸的情況下精確測量光纖芯部的回縮量與形貌。

Sensofar S neox 090

運用Sensofar S neox 090共聚焦或干涉模式下超高的水平精度與豎直精度，測量光纖斷面的形貌。將光纖用特制的垂直家具固定好后放在鏡頭下，先用低倍物鏡聚焦，再切換到高倍物鏡。

建議物鏡：

50倍共聚焦物鏡、100倍共聚焦物鏡、100倍干涉物鏡。

掃描完成后，得到完整的斷面三維形貌圖：

可以測量芯部回縮變形的各種尺寸。

包括變形部分的體積

通過對這些形貌和尺寸測量與觀察，可以優(yōu)化工藝，延長光纖的使用壽命。