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當前位置：圓松（成都）精密儀器設備有限公司>>幾何測量儀器>>臺碩-影像測量儀>> TSE-432大視野一鍵拼接閃測量儀 快速影像測量
| 產地類別 | 國產 | 價格區間 | 5萬-10萬 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 電子/電池,汽車及零部件,電氣 |
大視野一鍵拼接閃測量儀 快速影像測量TSE-432
大拼接閃測儀廣泛應用于航空航天、汽車電子、半導體、鐘表、手機零部件等眾多行業。在航空航天領域，可用于測量飛機結構件等大尺寸高精度零部件；在汽車電子行業，能對汽車覆蓋件、發動機零部件等進行快速測量；在半導體行業，可測量晶圓、芯片等。
TSE-400系列拼接式閃測儀采用雙遠心光學系統，結合高精度圖像拼接測量算法。在CNC模式下，任意放置工件后，只需按一下啟動鍵，即可快速完成尺寸測量和評價，能快速測量產品的平面尺寸和形位公差。儀器量測測量效率是傳統影像儀器的10-20倍。
大視野一鍵拼接閃測量儀 快速影像測量TSE-432
| 項目 | 參數 | ||
| 型號 | TSE-432 | TSE-542 | |
| 測量范圍 | 拼接范圍 | 400*300mm | 500*400mm |
| 單視野 | 82*55mm | 82*55mm | |
| Z軸移動范圍 | 200mm | ||
| 測量精度 | 有拼接 | ±(4.5+L/150)μm | ±(4.5+L/150)μm |
| 無拼接 | ±3μm | ±3μm | |
| *標準件為被測產品 | |||
| 光學鏡頭 | 雙遠心光學鏡頭 | ||
| 圖像傳感器 | 2000萬像素 | ||
| 軟件 | 基于機器學習的圖像輪廓匹配算法 | ||
| 亞像素精度幾何測量算法 | |||
| 非線性光學系統畸變校正算法 | |||
| 多核、多 CPU、GPU 等圖像加速處理算法 | |||
| 外形尺寸 | 1100mm * 690mm * 1800mm | 1200mm * 790mm * 1800mm | |
| 電源 | AC 220V±10% 50Hz | ||
| 環境要求 | 溫度(T)：20±2℃；相對濕度(RH)：30--80% | ||
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