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    PAM-PR300-王子計測光學軸測定裝置
    • PAM-PR300-王子計測光學軸測定裝置
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    貨物所在地:上海上海市

    地: 日本

    更新時間:2026-03-09 08:08:16

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    王子計測光學軸測定裝置 PAM-PR300

    王子計測光學軸測定裝置   

    PAM-PR300

     

    產品規格

    測定項目

    偏光軸方位、配向角、位相差

    測定對象

    光學薄膜、偏光板

    測定原理

    旋轉光子法、平行尼科爾旋轉法、正交尼科爾旋轉法

    測定時間

    約4秒(偏光軸測定)

    測定波長

    590nm(可選450nm,630nm等)

    樣品尺寸

    30mm250mm,t=20mm以下

    系統配置

    測定裝置本體,光源裝置,電腦

    儀器尺寸

    W380 ×H390 ×D610 mm

    儀器重量

    27kg

     

    王子計測光學軸測定裝置 

    測量原理和精度

     

    偏光軸方位測定

    位相差測定

    測定方式

    旋轉光子法

    平行尼科爾旋轉法

    測定項目

    吸收軸方位

    透過軸方位

    位相差值、配向角

    構成

     

     

    角度分解能

    0.001°

    0.001°

    角度精度( 3σ)

    0.006°

    0.017°

    位相差分解能

    N/A

    0.01nm

    位相差精度( 3σ)

    N/A

    0.03nm

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