白光干涉儀快速掃描測量粗糙度數據無偏差

中圖儀器SuperView W白光干涉儀快速掃描測量粗糙度數據無偏差，以硬核技術參數鑄就表面粗糙度測量的精準性與專業性！設備測量粗糙度的核心參數表現優異：

1.粗糙度RMS重復性低至0.005nm，依據ISO/ASME/EUR/GBT四大國內外標準，可提供300余種2D、3D參數作為粗糙度評價標準，滿足不同行業的檢測合規要求；

2.依托白光干涉技術與復合型EPSI重建算法，單一掃描模式即可完成各類材質的表面粗糙度測量，搭配氣浮式隔振底座與0.1nm分辨率的環境噪聲評價功能，有效隔離外界振動干擾，定量檢測環境噪聲，確保粗糙度測量數據的高精度與穩定性。

W1型號在0.1nm分辨率下掃描速度達1.85μm/s，W1-Ultra型號更提升至8μm/s，快速掃描的同時保證粗糙度測量數據無偏差，且設備可完成粗糙度數據的去噪、濾波等處理，支持多格式報表導出，讓粗糙度測量更高效、更專業。

應用領域

1.在半導體領域，為國內頭部半導體企業提供硅晶片研磨減薄工藝的粗糙度檢測方案，亞納米級的測量精度助力企業精準把控工藝參數，有效提升硅晶片生產良率；

2.3C電子領域，服務多家手機代工廠，完成玻璃屏、金屬殼模具的粗糙度批量檢測，高效的自動化測量讓企業日均檢測量提升超2倍，大幅縮短質檢周期；

3.光學加工行業，為光學元件廠商解決超光滑表面的粗糙度測量難題，精準的納米級檢測數據幫助企業優化生產工藝，產品返工率降低超10%；

4.汽車零部件領域，為車企配套的精密零部件廠商提供齒輪、軸承等工件的粗糙度檢測，在車間環境下仍能保持穩定的測量精度，滿足企業規模化生產的質檢需求。

眾多行業客戶的認可，印證了設備在表面粗糙度測量上的硬實力。

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注：產品參數與服務可能根據技術升級實時更新，具體以新標準為準，詳情可咨詢客服獲取完整資料。