目錄:北京歐屹科技有限公司>>雙折射測量儀>>應力雙折射測量儀PA系列>> WPA-200-LPhotonic lattice雙折射分析儀
| 測量范圍 | 0-3500nm | 測量精度 | 0.1% |
|---|---|---|---|
| 產地類別 | 進口 | 產品種類 | 在線 |
| 價格區間 | 面議 | 數顯功能 | 無 |
| 溫控功能 | 有 | 應用領域 | 電子/電池,汽車及零部件 |
Photonic lattice雙折射分析儀主要簡介:
WPA系列是Photonic lattice公司采用自研的光子晶體技術,開發的一款適用性高的應力雙折射檢測設備,可測量相位差(光程差)高達3500nm,適合注塑成型的透光器件的應力雙折射檢測,高速而的測量能力受到各大光學廠和研究機構的青睞。數秒給出被測產品的應力雙折射大小和分布信息。
WPA 系列是Photonic Lattice, Inc.針對高雙折射的透明材料開發的光學測量設備,通過核心的偏光圖像傳感器,可以快速準確的測量透明材料的應力雙折射,針對不同產品尺寸,均有可匹配的型號可供選擇。
Photonic lattice雙折射分析儀主要特點:
可快速自動測量應力雙折射的大小、方向和分布;
面測量、可一次測量視野范圍內樣品的全部數據;
具備點、線、面、3D的分析功能;
三波長可量測0-3500nm,可拓展至10000nm;
可輸出光程差(nm)、偏振角度(°)、應力(Mpa)、應力雙折射(nm/mm)。




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