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優尼康科技有限公司成立于 2012 年。在香港、上海、東莞、天津、成都和蘇州設有分支機構或辦公室。從成立伊始一直專注于精密薄膜測量領域，為半導體、面板等高科技企業和高校及研發中心提供精密測量設備與解決方案。我們秉承“真誠，專注，信賴"的理念，用我們真誠的態度與行動服務客戶，專注于為客戶提供好品質、適合用戶需求的產品，與每一位客戶建立互相信賴的合作伙伴關系。我們真誠希望與大家共同成長，共同發展，一起創造美好的明天。了解詳情

2026 03-11

展會預告｜優尼康與您相約2026上海慕尼黑光博會，共探行業新境

慕尼黑上海光博會將于2026年3月18日至20日盛大召開。七大展區，集中展示激光智能制造、激光器與光電子、集成光電與光通信、光學、光學制造、檢測與質量控制及紅外技術與應用產品。優尼康攜帶多款精密檢測設

2026 03-11
KLA Filmetrics線上研討會互動問答全收錄
問答精華?聚焦實戰膜厚儀主題線上研討會互動問答全收錄問答集錦Q&A導語Introduction在剛剛落幕的線上研討會中，我們收獲了遠超預期的熱烈互動。會議期間的精準提問與深度交流，不僅體現了行業同仁對
2025 09-02
UNICORN × KLA聯合特裝展臺｜CIOE展臺7號館7B13，現場抽愛馬仕禮盒！
第二十六屆中國國際光電博覽會（CIOE）將于2025年9月10-12日在深圳國際會展中心舉辦。聚焦信息通信、精密光學、攝像頭技術及應用、激光制造、紅外紫外、智能傳感、新型顯示及AR/VR等八大前沿領域
2025 08-19
會議預告｜IPF即將開幕！優尼康展臺B06誠邀您前來觀展！
2025IPF功率器件制造測試與應用大會即將開幕，會議于8月21日-22日在無錫梁鴻濕地麗笙度假酒店舉辦，為期兩天。本屆大會聚焦：功率半導體先進材料與晶圓“智”造、功率器件與功率系統集成功率器件的新應
2025 03-07
SEMICON CHINA來了，與優尼康一起交流精密膜厚測量！
SEMICONCHINA2025半導體行業盛會將于3月26日至28日在上海新國際博覽中舉辦。優尼康攜多款精密測量設備參展，歡迎新老朋友蒞臨觀展！識別下方二維碼「預約報名參展」SEMICON“優尼康展臺

03-092026
XRF鍍層測厚儀選型要點總結
XRF鍍層測厚儀作為無損檢測領域的核心設備，廣泛應用于電子、五金、電鍍、汽車等行業，用于精準測量金屬、非金屬鍍層的厚度，其選型的合理性直接決定測量精度、使用效率及適配性。為幫助用戶避開選型誤區，精準匹
01-232026
KLA光學輪廓儀的表面形貌檢測應用
KLA光學輪廓儀是基于非接觸式光學干涉原理的高精度表面形貌檢測設備，具備納米級分辨率與三維成像能力，可實現對樣品表面粗糙度、臺階高度、微觀形貌的快速精準分析，廣泛應用于半導體、材料科學、微電子、精密制
01-162026
XRF鍍層測厚儀使用的基本步驟如下
XRF鍍層測厚儀支持多元素同步分析，適用于金、銀、鎳、鉻等金屬鍍層及多層復合結構，廣泛運用于電子、汽車、航空航天等行業的質量控制。其優勢在于非接觸式測量避免樣品損傷，便攜式設計與數字化校準功能提升檢測
01-122026
光學膜厚測量儀的使用注意事項有以下幾點
光學膜厚測量儀利用光學的特點，能夠直接檢測出物件涂層、或者是其它物件的厚度。光學膜厚測量儀所利用的工作原理，便是光的折射與反射。這種儀器在使用時，擺放在物件的上方，從儀器當中發射了垂直向下的可視光線。
12-152025
白光共聚焦顯微鏡工作原理
白光共聚焦顯微鏡是結合了共聚焦成像技術與白光照明的高精度顯微設備，可實現樣品的高分辨率、高對比度三維成像，其核心工作原理圍繞共聚焦光路設計和白光光源的多波段成像展開，具體如下：一、核心結構基礎白光共聚
12-122025
XRF鍍層測厚儀校準方法和維護保養要點
XRF鍍層測厚儀的校準方法包括準備標準樣板、檢查測厚儀、放置標準樣板、進行測量和校準以及記錄結果等步驟。而測厚儀的維護保養則包括定期清潔、避免撞擊和震動、正確存儲等。XRF鍍層測厚儀校準方法：1.準備
12-082025
光學膜厚測量儀的工作原理和應用領域
光學膜厚測量儀（是一種非接觸式、精確測量薄膜厚度的儀器，廣泛應用于半導體、光電、涂層、玻璃、金屬等領域的薄膜材料檢測。與傳統的機械測量方法相比，光學膜厚測量儀具有高精度、高效率和非破壞性的特點，能夠滿
11-192025
四探針電阻率測量儀是一種常用于測量材料電阻率的儀器
四探針電阻率測量儀是一種常用于測量材料電阻率的儀器，特別適用于半導體、金屬、薄膜等材料的電阻特性分析。它通過四個探針同時接觸到樣品表面，利用其測量電流和電壓來計算電阻率，具有高精度和無損測量的優點。四

06-27
2025
Filmetrics F50 自動Mapping膜厚測量儀
FilmetricsF50自動Mapping膜厚測量儀依靠光譜測量系統，可以簡單且快速地獲得直徑450毫米的樣品薄膜的厚度分布圖。采用r-θ極坐標移動平臺，可以快速的定位所需測試的點并測試厚度，測試非常快速，大約每秒能測試兩點。用戶可以自己繪制需要的點位地圖。Filmetrics...
08-26
2016
Filmetrics F20 單點光學膜厚測量儀
無論您是想要知道薄膜厚度、光學常數，還是想要知道材料的反射率和透過率，FilmetricsF20單點光學膜厚測量儀都能滿足您的需要。僅需花費幾分鐘完成安裝，通過USB連接電腦，設備就可以在數秒內得到測量結果。基于模塊化設計的特點，FilmetricsF20單點光學膜厚測量儀適用于...
08-17
2016
HERZ 主動式防震臺 AVI-400
HERZ主動式防震臺AVI-400電鏡因我們AVI而更精彩！!AVI主動式減震方案已經被不同行業高精密儀器廠家所采用,直接集成在系統框架上，取代傳統的空氣減震。如有您的儀器出廠時并沒有配置，現在我們可以為您實現！！簡單一步就能將儀器升級！！提升效能，提高精度！！您還在為低頻振動為...
08-17
2016
Filmetrics 薄膜測厚儀
Filmetrics薄膜測厚儀FilmetricsF40薄膜測厚儀結合顯微鏡的薄膜測量系統Filmetrics的精密光譜測量系統讓用戶簡單快速地測量薄膜的厚度和光學常數，通過對待測膜層的上下界面間反射光譜的分析，幾秒鐘內就可測量結果。當測量需要在待測樣品表面的某些微小限定區域進行...

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