一、鍍層標準片產品介紹：
鍍層膜厚標準片又名膜厚儀校準片,專業用于測厚儀（膜厚儀）在測金屬鍍層厚度的時候進行標準化校準.也就是我們在膜厚測試中常用的標準曲線法,是測量已知厚度或組成的標準樣品，根據熒光X-射線的能量和強度及相應鍍層厚度的對應關系，來得到標準曲線。之后以此標準曲線來測量未知樣品，以得到鍍層厚度或組成比率。對于PCB,五金電鍍,半導體等行業使用測厚儀來檢測品質和控制成本起到了很重要的作用。
二、鍍層標準片產品特點：
標準片通過美國NIST認證，其專門為X射線測厚儀大廠如德國費希爾Fischer、英國牛津Oxford（CMI）、美國熱電Thermo、美國Veeco、韓國Micro Pioneer、日本精工Seiko等生產制作標準樣品。
Calmetrics鍍層標準片適用于Fischer、Oxford、CMI、Thermo、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等各廠牌X-ray（X射線測厚儀）、 β-ray（β射線測厚儀）、磁感式及渦電流等多種原理的各種規格與尺寸。
X射線測厚儀標準片一般分為單鍍層片，雙鍍層片、多鍍層片、合金鍍層片、化學鍍層片。例如：單鍍層：Ag/xx，雙鍍層：Au/Ni/xx， 三鍍層：Au/Pd/Ni/xx，合金鍍層：Sn-Pb/xx， 化學鍍層：Ni-P/xx。（所有標準片都附有NIST證書）
