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    ULVAC-PHI是超高真空表面分析儀器供應商。專注于研發和生產表面分析儀器,包括光電子能譜儀(XPS)、俄歇電子能譜儀(AES)、飛行時間二次離子質譜儀(Tof-SIMS)和動態二次離子質譜儀(D-SIMS)。通過提供獨T的技術解決方案,幫助客戶解決各種具有挑戰性的問題,從而加速新產品和新技術的發展。產品應用領域包括納米技術、太陽能技術、微電子技術、存儲介質、催化、生物材料、藥品以及金屬、礦物、聚合物、復合材料和涂料等基礎材料。作為唯1一家能夠同時提供高性能XPS、AES和SIMS全系列表面分析儀器的制造商,ULVAC-PHI在全面性和完整性的表面分析解決方案領域擁有獨T的地位。愛發科費恩斯(南京)儀器有限公司成立于2023年11月,創辦理念是為一.L的商業產品提供頂.J的創新市場營銷和售后服務。作為ULVAC-PHI... 了解詳情
    第二輪通知|PHI 2025年全國表面分析技術研討會
    2025 09-24
    第二輪通知|PHI 2025年全國表面分析技術研討會

    為深入探討表面分析技術的研究進展與應用實踐,促進學術合作與交流,愛發科費恩斯(南京)儀器有限公司誠摯邀請您參加"PHI2025年全國表面分析技術研討會"。此次會議時間因故調整至2025年11月6日至7

    • 2025 09-02
      2025 ULVAC-PHI TOF-SIMS用戶培訓班(9月)報名開啟

      愛發科費恩斯(南京)儀器有限公司將于2025年9月23-26日在南京舉辦TOF-SIMS用戶培訓班,本次培訓僅針對nanoTOF3/3+系列TOF-SIMS用戶,屆時將圍繞TOF-SIMS理論、實驗操

    • 2022 06-09
      會議通知|鋰電池新型檢測技術進展及應用

      在過去的十幾年原位檢測、無損檢測等新型檢測技術發展迅速,為材料結構表征、形貌和化學特征等方面的研究開拓了諸多新的思路。就鋰電池而言,新型檢測技術的開發及應用將在如何提升電池能量密度、鋰枝晶與電池安全性

    Technology Center

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    • 09-072022
      通過XPS和REELS評估DLC薄膜中的sp2/sp3碳含量

      DLC概述DLC(DiamondLikeCarbon,類金剛石)是一種含有金剛石結構(sp3鍵)和石墨結構(sp2鍵)的亞穩非晶態物質,具有以sp3鍵碳共價結合為主體并混合有sp2鍵碳的長程無序立體網

    • 08-162022
      利用UPS/LEIPS和REELS進行可靠的帶隙表征

      從20世紀60年代起,半導體一詞已被大眾熟知,原因是以半導體為材料制造的電子元器件廣泛進入大眾的日常生活。半導體元件的功能是基于半導體材料的電子性質,因此,研究半導體材料的導電性對其發展至關重要。對半

    • 07-192022
      表面分析家|淺談X射線光電子能譜儀

      X射線光電子能譜(X-rayPhotoelectronSpectroscopy,簡稱XPS),是一種基于光電效應的電子能譜,是測量電子能量的譜學技術,最初是被用來進行化學分析,因此也被稱為化學分析電子


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