在光學(xué)測量領(lǐng)域，高分辨率與緊湊體積往往如同魚與熊掌，不可兼得。然而，北京泰坤工業(yè)設(shè)備有限公司帶來的全新德國NYLIS高分辨率紫外/可見光譜儀，憑借其突破性的光學(xué)設(shè)計，正在重新定義微型光譜儀的性能邊界。
圖：NYLIS光譜儀，將高性能蘊藏于緊湊機身之中
NYLIS光譜儀的核心魅力，源于其基于Aris系列平臺的革新。它采用了焦距達(dá)120mm的對稱式Czerny-Turner光學(xué)設(shè)計，相較于同尺寸產(chǎn)品，更長的焦距帶來了更優(yōu)的光學(xué)成像效果和更低的像差，使其能夠?qū)崿F(xiàn)低至0.05nm (FWHM) 的驚人光譜分辨率。這一數(shù)據(jù)，在如此緊湊的機身內(nèi)（67.0 × 150.0 × 19.0 mm），令人驚嘆。
圖：優(yōu)化的對稱式Czerny-Turner光路，是實現(xiàn)超高分辨率的基石
NYLIS系列專為對分辨率有高要求的應(yīng)用而生，例如激光表征、精細(xì)原子光譜分析等。它標(biāo)配10μm的入射狹縫和4096像素的Hamamatsu S13496 CMOS傳感器，海量像素確保了微弱光譜細(xì)節(jié)也能被精準(zhǔn)捕捉。
產(chǎn)品提供多種標(biāo)準(zhǔn)波長范圍配置，以滿足不同領(lǐng)域的精細(xì)測量需求：
超精細(xì)分析系列：如 400-500 nm、500-600 nm 等波段，典型分辨率可達(dá) 0.05 nm，適用于分析激光器的單模特性或復(fù)雜元素的特征譜線。
寬譜通用系列：如 400-1000 nm，典型分辨率 0.33 nm，兼顧了寬覆蓋范圍和不錯的分辨能力，適用于常規(guī)光譜分析。
圖：NYLIS在不同標(biāo)準(zhǔn)波長配置下的典型與分辨率表現(xiàn)
值得注意的是，用戶還可根據(jù)需求定制起始和終止波長，甚至更換從10到300μm不等的入射狹縫，以在靈敏度和分辨率之間找到適合應(yīng)用的平衡點。
一臺優(yōu)秀的光譜儀，是光學(xué)、電子學(xué)和機械設(shè)計的結(jié)合。NYLIS在這些方面同樣表現(xiàn)良好：
光學(xué)特性：采用對稱式Czerny-Turner設(shè)計，焦距120mm，數(shù)值孔徑0.07。內(nèi)置探測器鏡頭和可選的級次分選濾光片，有效抑制雜散光（0.1%），確保測量純凈度。
電子學(xué)與接口：16位A/D轉(zhuǎn)換器，信噪比高達(dá)550，動態(tài)范圍5500:1。支持通過USB 2.0或UART進行通信，并配備了觸發(fā)輸入/輸出、模擬輸入/輸出等豐富接口，便于集成到復(fù)雜的自動化系統(tǒng)中。其Type-C USB接口和16針輔助接口，保證了高速數(shù)據(jù)傳輸與外部設(shè)備控制的便捷性。
軟件與開發(fā)支持：標(biāo)配支持Windows 7及以上版本的應(yīng)用軟件，并提供完整的軟件開發(fā)包（SDK），包含演示代碼和驅(qū)動文檔，讓二次開發(fā)變得異常簡單。
由于其設(shè)計上對分辨率的高追求，NYLIS在以下場景中具有顯著優(yōu)勢：
激光表征：精確測量激光的線寬、中心波長及邊模抑制比。
氣體檢測：分辨具有精細(xì)吸收結(jié)構(gòu)的特征氣體，如NOx、Hg等。
等離子體診斷：監(jiān)控等離子體發(fā)射光譜中的細(xì)微變化。
科研教學(xué)：用于原子光譜、分子光譜學(xué)的高精度實驗。
NYLIS光譜儀已正式上市，、聯(lián)系我們獲取詳細(xì)報價與技術(shù)咨詢。
德國Avenir NYLIS系列高分辨便攜光纖光譜儀有北京泰坤工業(yè)設(shè)備有限公司總代理。
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