德國LINSEIS公司是專業研發和制造熱分析儀器生產商，總部位于德國巴伐利亞州澤爾布。自1957年成立至今，德國LINSEIS一直致力于研發生產熱分析及熱物性設備，為全球廣大用戶提供熱分析領域解決方案。
林賽斯（上海）科學儀器有限公司主要服務于廣大中國區用戶，提供LINSEIS熱分析儀器售前、銷售及售后全方面服務。為更好的響應客戶需求，目前在北京、上海、香港均設有服務機構，已形成了立足京滬、橫跨南北、覆蓋全國的服務體系。位于北京的應用實驗室，及與高校研究院成立的聯合實驗室均能更進一步與廣大用戶共同探討熱分析應用方面的解決方案。
LINSEIS除了提供全線熱分析標準設備（差示掃描量熱儀、熱天平、同步熱分析儀、熱膨脹儀、熱膨脹相變儀、熱機械分析儀、導熱測試儀、激光導熱儀、熱電材料測試儀、塞貝克/電阻分析儀、熱界面材料測量系統、熱質聯用儀等），還提供為客戶量身定制的熱分析測量設備。LINSEIS寬廣的測量響應條件（-263 至 2800℃，最高350bar）可廣泛應用于聚合物、化工、金屬/合金、陶瓷/玻璃/建材、熱電材料、核工業、航空航天等領域。
熱擴散/導熱系數測試儀，熱膨脹儀，薄膜物性分析儀，同步熱分析儀，熱重分析儀，差示掃描量熱儀，熱機械分析儀，塞貝克系數測定儀
| 產地類別 | 進口 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 儀器種類 | 激光閃點法 | 應用領域 | 綜合 |
林賽斯 導熱系數/塞貝克系數聯測儀 LZT-Meter（LZT L33）可以通過在單個設備中組合激光導熱儀和塞貝克系數測量儀來確定熱電優值（ZT值）的商用儀器。因此，該測量設備既可以通過使用激光閃射法獨立測定導熱系數，也能夠通過 LSR 測量系統測量電阻率和塞貝克系數。
其優勢顯而易見：導熱系數/塞貝克系數聯測儀 這種集成式設計既能節省昂貴的實驗室空間，又能節省因配備雙爐體、測量電子設備和其他設備而產生的不必要費用。因此，對于那些重點不在于高樣品處理量，而在于測量質量和成本效益的研發應用來說，LZT L33 測量儀是理想的解決方案。因為對于樣品的完整熱電優值（ZT）特性表征而言，僅需一個圓盤形狀的樣品就足夠了。
該設備還可選配三種不同的加熱爐：一種新型紅外爐（用于在非常高和極低的加熱速率下進行精確的溫度控制）以及低溫爐和高溫爐。
- 組合測量（將激光閃射法測量和塞貝克系數測量集成在一臺設備中）
- 模塊化加熱爐（有多種爐體可供選擇，以滿足特定需求。）
- 寬廣的溫度范圍（-100 - 1100℃）
- 經濟實惠且節省空間（得益于其集成化的設計，節省了實驗室空間并降低了成本。）
- 高精度（幾何誤差小，且環境條件相同）
| 類型 | LZT-Meter (LZT L33) | ||
| 溫度范圍： | 紅外加熱爐：RT - 800°C / 1100°C 低溫爐：-100°C - 500°C | 導熱 | |
| 測試方法： | 塞貝克系數：靜態直流法/斜率法 電阻：四端法 | 脈沖源： | Nd：YAG 激光器（25 J/pulse） |
| 測量原理： | 基于芯片構造 (預結構化的測量芯片，每盒 24 個) | 脈沖寬度： | 0.01 - 5 ms |
| 氣氛： | 惰性、還原性、氧化性、真空環境 氦氣：建議使用低壓氦氣 | 探測器： | InSb / MCT |
| 樣品支架： | 在兩個電極之間垂直夾緊 用于箔和薄膜的可選適配器 | 導熱系數： | 0.01 - 1000 mm2/s |
樣品尺寸： (圓柱體或矩形) | 2-5 mm (邊長/直徑) x 6-23 mm (高) | 插件： | LSR-4 升級 |
樣品尺寸： (圓盤形狀) | 10、12.7、25.4 mm | 直流哈曼法： | 在熱電腿上直接測量 ZT |
| 熱電偶測量距離： | 4、6、8 mm | 交流阻抗譜： | 在熱電模塊（TEG/Peltier 模塊）上直接測量 ZT |
| 冷卻水： | 需要 | 溫度范圍： | -100 - 400 °C RT - 400 C °C |
| 塞貝克系數 ： | 1 μV/K - 250 mV/K（靜態直流法） | 樣品架： | 用于絕熱測量條件的針式觸點 |
| 電導率： | 0.01 - 2×105 S/cm | 樣品尺寸： | 2 - 5 mm (邊長/直徑) x 6 - 23 mm (高) 模塊尺寸為 50 x 50 mm |
| 電源： | 0 至 160 mA 的低漂移電流源 | ||
| 電極材料： | 鎳（-100 至 500 °C） 鉑（-100 至 1500 °C） | ||
| 熱電偶： | 型號 K / S / C | ||
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